#P5161. 芯片测试
芯片测试
题目描述
有 ()块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数 ,表示芯片个数。
第二行到第 行为 的一张表,每行 个数据。表中的每个数据为 或 ,在这 行中的第 行第 列()的数据表示用第 块芯片测试第 块芯片时得到的测试结果, 表示好, 表示坏, 时一律为 (并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3