#P5161. 芯片测试

芯片测试

题目描述

nn2n202≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。

给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数 nn,表示芯片个数。

第二行到第 n+1n+1 行为 n×nn×n 的一张表,每行 nn 个数据。表中的每个数据为 0011,在这 nn 行中的第 ii 行第 jj 列(1i,jn1≤i,j≤n)的数据表示用第 ii 块芯片测试第 jj 块芯片时得到的测试结果,11 表示好,00 表示坏,i=ji=j 时一律为 11(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3